使用高空低氣壓試驗箱在國內外需要參考那些標準及適用范圍介紹如下：

一、國內外低氣壓（高度）試驗的主要標準

1. GB/T2423.25-1992 電工電子產品基(ji)本環境試(shi)驗(yan)規(gui)程試(shi)驗(yan)Z/AM：低(di)(di)溫/低(di)(di)氣(qi)壓(ya)綜(zong)合試(shi)驗(yan)方法(fa)

2. GB/T2423.26-1992 電工電子(zi)產品基本環境試驗(yan)(yan)規(gui)程試驗(yan)(yan)Z/BM ：高溫/低(di)氣壓綜(zong)合試驗(yan)(yan)方(fang)法

3. GB2423.27-2005 電(dian)工電(dian)子產品基本(ben)環境試驗規程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓(ya)/濕熱連續綜合(he)試驗方法

4. GB/T2424.15-2008 電工電子(zi)產品基本(ben)環境試(shi)驗規程溫度/低氣壓綜合試(shi)驗導則

5. GJB 150.2-1986 軍(jun)用設(she)備環境試(shi)驗方法 低氣壓（高度）試(shi)驗

6. GJB 150.2A-2009 軍用裝備實驗(yan)室環境試驗(yan)方(fang)法 第二部分 低(di)氣壓（高度）試驗(yan)

7. GJB 360B-2009 電(dian)子及電(dian)氣(qi)元(yuan)件試(shi)驗(yan)方法 方法 105 低氣(qi)壓試(shi)驗(yan)（等效美軍標MIL-STD-202F）

8. GJB 548B-2005 微電(dian)子(zi)器件試(shi)驗方法和程(cheng)序 方法1001 低氣壓（高空工作(zuo)）（等效美軍標MIL-STD-883D）

9. HB 6167.2-1989 民用(yong)飛機機載(zai)設備環境(jing)條件和試驗方法 溫(wen)度(du)和高度(du)試驗

10. HB 6167.2-2014 民用(yong)飛機(ji)機(ji)載(zai)設備(bei)環境條件和試(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法 第2部分：溫(wen)度和高度試(shi)(shi)驗(yan)

11. MIL-STD-202F-1998，電子及(ji)電氣元件試驗方法

12. MIL-STD-810C/F/G環境工程相關事項及實(shi)驗(yan)室測試

13. MIL-STD-883D-2005，微電子(zi)器件試驗(yan)方法和程序

14. RTCA/DO-160G Environmental Conditions andTest Procedures for Airborne Equipment Section 4.0 Temperature and Altitude（機(ji)載設備環境(jing)條件(jian)和試驗方法(fa)）

二、高空低氣壓(ya)試驗箱(xiang)各標準適(shi)用、目(mu)的、范圍的摘錄

GJB 150.2-1986

本標(biao)準(zhun)適用(yong)于作(zuo)為(wei)貨物在飛(fei)機上增壓艙(cang)內運輸的(de)設備，在高海拔地區安裝(zhuang)和(he)工(gong)作(zuo)的(de)設備。

GJB 150.2A-2009

1 范圍

……

本部分(fen)適用(yong)于對軍(jun)用(yong)裝(zhuang)備進(jin)行低氣(qi)壓（高(gao)度）試驗。

……

3 目的與應用

3.2 應用

本試(shi)驗適(shi)用(yong)于(yu)：

a) 在(zai)高(gao)海拔地區貯(zhu)存/工作的裝備。

b) 在飛機(ji)增壓或非增壓艙中運(yun)輸(shu)或工作的裝備（也可使用(yong)GJB 150.24A-2009進行評價）。

c) 暴(bao)露于快(kuai)速減(jian)壓或(huo)爆炸(zha)減(jian)壓環境中的(de)裝備。確定暴(bao)露于該環境下的(de)裝備出現的(de)故障(zhang)是否會損壞(huai)其(qi)平(ping)臺或(huo)造成人(ren)員傷害。

d) 在飛機外部掛飛的裝備。

3.3 限制

本試驗(yan)不適用于飛行高度超過(guo)30 000m的(de)航天器、飛機或導(dao)彈上安裝(zhuang)或工作的(de)裝(zhuang)備(bei)。

HB 6167.2-1989

1 主題內容(rong)與適(shi)用范(fan)圍

……本(ben)標準適(shi)用(yong)(yong)于民(min)用(yong)(yong)飛(fei)機上會(hui)受到高、低溫和低氣壓影(ying)響的設備。

HB 6167.2A-2014

1 范(fan)圍

……

本部(bu)分適用(yong)于民用(yong)飛機上會受到高、低溫和氣壓環境影響的機載(zai)設備。

GB/T 2423.25-2008

1.1概(gai)述

……

本試驗(yan)目的(de)(de)是確定元件、設備和其他產品對其貯(zhu)存和使用中遇到的(de)(de)低(di)溫(wen)-低(di)氣壓綜合(he)環境的(de)(de)適(shi)應(ying)性。

……

1.2 低(di)氣壓

本(ben)試驗程序(xu)適用于氣壓(ya)大于1kPa的(de)壓(ya)力試驗。當氣壓(ya)小于或等于1kPa時，可不必考慮試驗程序(xu)的(de)內容。

GB/T 2423.26-20081.1概述

……

本試驗目的是確(que)定(ding)元件、設備和其(qi)他產品對其(qi)貯存和使用中遇(yu)到(dao)的高溫-低氣壓綜(zong)合環(huan)境(jing)的適應性。

1.2 低氣壓

本試驗程序(xu)適用于(yu)氣壓大于(yu)1kPa的壓力試驗。當氣壓小于(yu)或(huo)等于(yu)1kPa時(shi)，可(ke)不必考慮試驗程序(xu)的內容。

GB/T 2423.27-2005

1 高空低(di)氣壓試(shi)驗箱(xiang)目(mu)的

……

本試(shi)驗(yan)用于飛行器所(suo)使用的元器件和(he)設備，特(te)別是在非加熱和(he)非增壓部位(wei)的元器件和(he)設備。

2 試驗的(de)一般說明

本試驗模飛行器升降期間，未(wei)增壓和溫度(du)未(wei)控制的部位所遇到的環境(jing)條(tiao)件。……

GJB 360B-2005

方法 105 低氣(qi)壓(ya)試(shi)驗(yan)

1 目的

確定(ding)元(yuan)件和材(cai)料在低(di)氣壓(ya)下耐電擊穿的(de)(de)能力；確定(ding)密封元(yuan)件耐受(shou)氣壓(ya)差不破壞的(de)(de)能力；檢驗(yan)低(di)氣壓(ya)對元(yuan)件工(gong)作特性的(de)(de)影響(xiang)及低(di)氣壓(ya)下的(de)(de)其(qi)他效(xiao)應(ying)；有(you)時(shi)候可(ke)用于確定(ding)機電元(yuan)件的(de)(de)耐久(jiu)性。

本方法是常溫條件(jian)下的低氣壓試驗(yan)。……（元件(jian)及其材料）

GJB 548B-2005

方法(fa)1001 低(di)氣(qi)壓（高度）試驗(yan)

1目的

本試(shi)驗是模擬飛(fei)機(ji)或其(qi)(qi)他(ta)飛(fei)行器在(zai)高空飛(fei)行中所遇到的(de)低(di)氣(qi)壓條件(jian)來進行的(de)。本項(xiang)試(shi)驗的(de)目的(de)測定元器件(jian)和材料(liao)在(zai)氣(qi)壓減小時，由(you)于空氣(qi)和其(qi)(qi)他(ta)絕緣材料(liao)的(de)絕緣強度減弱抗電(dian)擊(ji)穿失(shi)效的(de)能力。……（軍用(yong)及空間應用(yong)的(de)微(wei)電(dian)子器件(jian)）