隨著科技(ji)的(de)(de)發展，手(shou)(shou)(shou)(shou)機更(geng)新換(huan)代的(de)(de)非常快，手(shou)(shou)(shou)(shou)機做為(wei)人們日(ri)常生活不(bu)可缺少(shao)的(de)(de)通信工具，在向(xiang)市場上大(da)量(liang)出售前(qian)，需(xu)要做整(zheng)機可靠性(xing)測(ce)試(shi)，以(yi)全(quan)方(fang)位保(bao)障手(shou)(shou)(shou)(shou)機的(de)(de)品質(zhi)與人們的(de)(de)使用安全(quan)。那么手(shou)(shou)(shou)(shou)機整(zheng)機可靠性(xing)測(ce)試(shi)需(xu)要做哪些項目呢？下面劍(jian)喬(qiao)儀器小編(bian)為(wei)大(da)家仔細講解下手(shou)(shou)(shou)(shou)機整(zheng)機可靠性(xing)測(ce)試(shi)的(de)(de)試(shi)驗項目以(yi)及相關(guan)測(ce)試(shi)標準(zhun)。

一：手機整機環(huan)境可靠性測試

由(you)于手機是(shi)移動設備，這就決定了(le)它(ta)隨時會面臨冬(dong)天的(de)(de)嚴寒與靜電(dian)，夏季(ji)的(de)(de)酷暑與潮濕，而高低(di)溫(wen)環(huan)境測(ce)試就是(shi)為了(le)避免手機產生嚴重失效(xiao)現象而進行的(de)(de)測(ce)試。最為容易想象的(de)(de)就是(shi)高低(di)溫(wen)環(huan)境測(ce)試，它(ta)會給予(yu)手機一(yi)個初始測(ce)試狀(zhuang)(zhuang)態如待機、關機或(huo)者(zhe)充電(dian)，定時檢(jian)查手機在(zai)測(ce)試中的(de)(de)狀(zhuang)(zhuang)況。

1）高低溫環境測試

高(gao)低(di)溫試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)是高(gao)溫試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)和低(di)溫試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)的(de)(de)(de)(de)的(de)(de)(de)(de)簡稱，試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)目的(de)(de)(de)(de)是評價高(gao)低(di)溫條件對裝備(bei)在(zai)存儲和工(gong)作(zuo)期間的(de)(de)(de)(de)性(xing)能影響。高(gao)低(di)溫試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)的(de)(de)(de)(de)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)條件、試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)實施、試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)步驟(zou)在(zai)GJB 150.3A一2009《軍用裝備(bei)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)室環(huan)境試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)方法高(gao)溫試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)》與GJB 150.4A—2009《軍用裝備(bei)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)室環(huan)境試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)方法低(di)溫試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)》中都有詳(xiang)細的(de)(de)(de)(de)規定。

2）鹽(yan)霧(wu)測試

鹽霧箱條件： 5+1％NaCl溶(rong)液， 6,5<pH<7.2 ,T=+35+2°C,濕熱(re)箱條件：＋40+2°，93+3％RH，持續(xu)時間48H。

3）ESD測(ce)試

手(shou)機(ji)(ji)在接充電(dian)器和不接充電(dian)器的情(qing)況下(xia)，分(fen)別測試手(shou)機(ji)(ji)在常用使用狀(zhuang)(zhuang)態(tai)下(xia)的ESD 性能，待機(ji)(ji)和通話狀(zhuang)(zhuang)態(tai)是必須要測試的狀(zhuang)(zhuang)態(tai)。 

接觸放(fang)(fang)(fang)電為±6KV,對裸露的金屬件（如導電裝飾圈、裝飾牌不同的位置）、水平耦合(he)板(ban)、垂直耦合(he)板(ban)連續(xu)放(fang)(fang)(fang)電各(ge) 10次(ci)后對地放(fang)(fang)(fang)電,要(yao)求：LCD 顯示和(he)通話(hua)狀(zhuang)況應(ying)良(liang)好，應(ying)無數據(ju)丟失和(he)功能(neng)損壞等；接觸放(fang)(fang)(fang)電每(mei)點每(mei)個測試(shi)電壓連續(xu)放(fang)(fang)(fang)電 10次(ci)(加嚴測試(shi)±20 次(ci))。 

空氣放電(dian)±10K，對翻蓋(gai)底(di)(di)殼/面殼、大小(xiao)LCD四周(zhou)、接縫、受話(hua)器(qi)、免提(ti)接口(kou)、I/O口(kou)、主機按鍵及(ji)主機底(di)(di)殼等(deng)處(chu)進行放電(dian)，被選點每點每個(ge)測試(shi)電(dian)壓(ya)放電(dian)10 次(加嚴測試(shi)±20 次)，每放電(dian)一次需對地放電(dian)，要(yao)求LCD顯(xian)示和通話(hua)狀況應良好，應無數(shu)據(ju)丟失和功(gong)能損(sun)壞。 

完成后作好(hao)記錄。所需(xu)手機數為2 部。 

外置天線 ESD 測試要(yao)求：天線電(dian)(dian)鍍(du)裝(zhuang)飾要(yao)求測試接觸放(fang)電(dian)(dian)±8KV，空氣放(fang)電(dian)(dian)±15KV，不允許(xu)出現(xian)破壞性(xing)問(wen)題(ti)（出現(xian)重啟或重裝(zhuang)電(dian)(dian)池不可恢復的問(wen)題(ti)） 

參考(kao)標準: 

GB/T 17626.2 1998 idt IEC-61000-4-2  1995 電磁兼容試(shi)驗(yan)和測(ce)量(liang)技術靜電放電抗(kang)擾度試(shi)驗(yan) &nbsp;

YD/T 1539-2006移動通信(xin)手持機可靠性技(ji)術要求和測試方法。

4）極限溫度(du)充電測試

5）溫(wen)升測試

二、手機整機機械(xie)類可靠性(xing)測試

這類測試(shi)(shi)大多數(shu)屬(shu)于破壞(huai)性的測試(shi)(shi)，我(wo)們可以理解成測試(shi)(shi)產品(pin)的一個極限(xian)狀態(tai)。簡單的說就是(shi)看看產品(pin)的可靠(kao)度，比如10厘米的微(wei)跌測試(shi)(shi)，對(dui)手機的正面(mian)和反(fan)面(mian)各(ge)微(wei)跌200次，手機LCD不能出現白點或者白斑(ban)，TP滑動功能全領域有效，如果測試(shi)(shi)通(tong)過我(wo)們認(ren)為該產品(pin)在(zai)這方面(mian)具備(bei)可靠(kao)度。

1）跌落測試

分定向跌(die)(die)落(luo)、自由(you)跌(die)(die)落(luo)、重復(fu)跌(die)(die)落(luo)、滾筒(tong)跌(die)(die)落(luo)四種跌(die)(die)落(luo)方式。

試(shi)(shi)(shi)(shi)驗樣機插SIM 卡，并(bing)裝配(pei)電池，手(shou)機處于(yu)正常工作狀態。將樣品放(fang)置在垂(chui)直(zhi)跌落(luo)(luo)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗儀上，將高度調到 1.0m ，進行垂(chui)直(zhi)跌落(luo)(luo)測試(shi)(shi)(shi)(shi)。每個面各測 2 次(ci)，共跌落(luo)(luo)12 次(ci)。跌落(luo)(luo)測試(shi)(shi)(shi)(shi)后，首先對樣品進行外觀、功能，結構檢測，記錄測試(shi)(shi)(shi)(shi)狀態后，再進行拆機檢測。

試(shi)驗樣(yang)機插SIM 卡，并裝(zhuang)配(pei)電池，手機處于正常工作(zuo)狀態。 將樣(yang)品放置在 0.5m 的滾(gun)筒(tong)跌(die)落(luo)試(shi)驗機中，進(jin)行(xing)跌(die)落(luo)測(ce)試(shi)，每(mei) 50 次對(dui)手機的外觀，功(gong)能，結(jie)構做檢(jian)測(ce)，累計跌(die)落(luo)300 次循(xun)環(huan)。 測(ce)試(shi)完成后，對(dui)手機進(jin)行(xing)功(gong)能，結(jie)構，裝(zhuang)配(pei)檢(jian)測(ce)（要求必須拆機檢(jian)查）。

2）軟壓測試(shi)

將手機(ji)正(zheng)面朝(chao)上，放置在支撐部(bu)件的中(zhong)心(xin)位置上，樣(yang)品處于開機(ji)狀態并鎖住(zhu)鍵盤。彈性(xing)擠(ji)壓頭以 25kg 的力(li)、每分(fen)鐘 15～30 次的頻(pin)率擠(ji)壓樣(yang)品中(zhong)間部(bu)位1000次，分(fen)別在400、600、800、1000 次進行(xing)外(wai)(wai)觀檢查和話(hua)音(yin)通信(xin)檢查，外(wai)(wai)觀、功能(neng)應(ying)正(zheng)常(chang)(chang)，話(hua)音(yin)通信(xin)應(ying)能(neng)正(zheng)常(chang)(chang)進行(xing)。測(ce)(ce)試結(jie)束后進行(xing)功能(neng)、外(wai)(wai)觀及(ji)裝(zhuang)配檢測(ce)(ce)應(ying)無(wu)異常(chang)(chang)。

3）硬壓測(ce)試

4）小球沖擊

5）水波(bo)紋測(ce)試

6）USB/耳(er)機接(jie)口推力測試

7）正弦振(zhen)動測試

    振(zhen)動頻率: 10 ~ 500Hz ASD(加速度頻譜密度)：0.96m2/S3 持續(xu)時(shi)間: 每(mei)方(fang)向1小時(shi)(x,y,z三(san)個方(fang)向)。 試驗過程中檢(jian)查(cha)手機有無掉卡、關機等(deng)不良現象，測試結束后功(gong)能檢(jian)查(cha)應無異常(chang)。

8）沙塵實驗

9）包裝振動(dong)

三、手(shou)機(ji)整機(ji)壽命類測試

    實(shi)際(ji)研制過程中，壽命測(ce)(ce)試一般為加速壽命測(ce)(ce)試，以便縮(suo)短測(ce)(ce)試周期，降低生(sheng)產(chan)成本，讓產(chan)品在(zai)短時(shi)間內(nei)盡可(ke)能暴(bao)露產(chan)品的缺陷，評(ping)估產(chan)品的穩定性。

1）SIM/T卡(ka)/內(nei)存卡(ka)接入和(he)拔出測試

    插(cha)入SIM 卡再取(qu)出，累計(ji)1000 次。每插(cha)拔(ba)50 次開機檢查(cha)一(yi)次，手機不能有不識卡現象，測試完畢手機功(gong)能應正(zheng)常。

    插入內存卡(ka)(ka)再取(qu)出(chu)，累計 1000 次。不支持熱插拔(ba)(ba)的(de)(de)機(ji)型，每插拔(ba)(ba) 100 次開機(ji)檢查一(yi)次，支持熱插拔(ba)(ba)的(de)(de)機(ji)型必須在開機(ji)狀態下測(ce)試，每插拔(ba)(ba) 100 次檢查一(yi)次，要求測(ce)試后存儲(chu)卡(ka)(ka)結(jie)構正常（不能破裂），手機(ji)無不識卡(ka)(ka)問(wen)題(ti)，內存卡(ka)(ka)中的(de)(de)內容(rong)不可丟失。

2）USBUSB/耳機接口接入和拔出測試

 ;   將耳(er)機垂(chui)(chui)直插入耳(er)機孔后，再垂(chui)(chui)直拔出，如此反復，累計 3000 次。功(gong)能應正(zheng)常(chang)。

插入數據(ju)線(xian)再拔(ba)下，累計(ji)3000次(ci)。每插拔(ba)100次(ci)開機檢(jian)查一次(ci)，手機功(gong)能應正常。

3）按鍵測試

    以 40~60 次/分鐘的速度，不小于 10N 的力度均勻按鍵(jian)，Dome：15 萬(wan)次以上(shang)；Switch：10 萬(wan)次；多(duo)維導(dao)航鍵(jian)：6 萬(wan)次。每2萬(wan)次檢查1次。Slide：1.5 萬(wan)次；試驗后功能應正常。

4）觸摸(mo)屏點(dian)擊(ji)測(ce)試

    將手機(ji)固定(ding)在(zai)點擊測(ce)試儀器上， 用(yong)固定(ding)在(zai)尖端的隨機(ji)手寫筆，加載 150g 的力，對觸摸(mo)屏(ping)點擊25 萬次， 每5 萬次對屏(ping)幕進行檢查(cha)并(bing)清潔(jie)；手機(ji)處于(yu)待機(ji)狀(zhuang)態(tai)；測(ce)試完畢后，觸摸(mo)屏(ping)表(biao)面(mian)無損傷(shang)，功能正常。點擊速率：約1 次/秒

5）觸(chu)摸屏劃線測試(shi)

    將手(shou)機(ji)固定(ding)在劃線(xian)測(ce)試儀器上(shang)， 用手(shou)機(ji)自(zi)帶的(de)手(shou)寫(xie)筆沿觸(chu)(chu)(chu)摸屏(ping)的(de)對角(jiao)線(xian)進行(xing)劃線(xian)測(ce)試，劃線(xian)壓力(li)為(wei)150g 力(li)， 測(ce)試次(ci)(ci)數10 萬次(ci)(ci) （反復來(lai)回為(wei) 2 次(ci)(ci)），每1 萬次(ci)(ci)對觸(chu)(chu)(chu)摸屏(ping)功(gong)能、結構和外觀進行(xing)檢測(ce)，并(bing)對觸(chu)(chu)(chu)摸屏(ping)進行(xing)清潔(jie)。測(ce)試結束后，觸(chu)(chu)(chu)摸屏(ping)功(gong)能應正常，外觀無損(sun)傷（劃痕）。 （劃線(xian)速度(du)：約30mm/秒）

6）聽筒(tong)壽(shou)命測試

    使用0.035W， PINK&nbsp; 20Hz-20KHz的120小(xiao)時內無(wu)異常現象。

7）馬達測試

8）揚聲器測試

9）受話(hua)器測試(shi)

四(si)、手機整機表面處理(li)類測(ce)試(shi)

1）紙帶/羊毛氈(zhan)耐磨測試

    使用多(duo)功能耐磨儀器，羊毛氈，施加(jia) 1000g 的力(li)，在產品表面(mian)（有(you)表面(mian)處理工(gong)藝）以 40 次/分鐘～60 次/分鐘的速度，以 30mm 左右的行程，在樣(yang)本表面(mian)來(lai)回磨擦，測試 2000 次(1000 個(ge)循(xun)環)后 觀(guan)察外觀(guan)。

2）硬度測試

    觸摸屏硬度測試，用三菱牌 2H 鉛筆劃(hua)(hua)產品表面，在(zai)(zai) 45°的角度，以 500g的力(li)度在(zai)(zai)被測殼表面劃(hua)(hua)兩筆劃(hua)(hua)刻后(hou)用橡皮(pi)擦(ca)試后(hou)檢查應無明(ming)顯劃(hua)(hua)痕。

3）噴(pen)涂百格測試(shi)

4）耐醇性測(ce)試

5）化妝品(pin)測(ce)試

6）耐壓(ya)測試(shi)

7）振動耐(nai)磨測(ce)試(shi)。

五、手機整機三防測試

    區別于傳(chuan)統(tong)的三(san)防“防霉(mei)菌、防潮濕、防鹽霧”，手機(ji)整機(ji)的三(san)防測試主要為防塵、防水、防跌落(luo)震動測試。

    如防塵可靠性(xing)測試(shi)(shi)，將(jiang)(jiang)手(shou)機(ji)放(fang)置在(zai)(zai)粉(fen)塵試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱內(nei)， 樣品體積綜合不(bu)得(de)超過(guo)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱有效(xiao)空間的 1/3，底面積不(bu)得(de)超過(guo)有效(xiao)水平(ping)在(zai)(zai)積的 1/2；與實驗(yan)(yan)箱內(nei)壁距離(li)應不(bu)小于(yu) 100mm。啟(qi)動粉(fen)塵試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱，使氣流能夠將(jiang)(jiang)灰塵均勻緩慢地沉降在(zai)(zai)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣品上，最大值不(bu)得(de)超過(guo) 2m/s。測試(shi)(shi)時間到后，將(jiang)(jiang)手(shou)機(ji)在(zai)(zai)粉(fen)塵箱內(nei)靜(jing)置 2H，進行功(gong)能、外觀及(ji)裝配檢測。

六、 國內手(shou)機可靠性測(ce)試(shi)方面的主要(yao)標(biao)準

1）GB/T 15844.2-1995 移(yi)動通信調頻無線電(dian)話(hua)機(ji)環境要求和試(shi)驗方法。 

2）YD/T1215  900/1800MHz TDMA數字蜂窩移動一動通信網通用分組無限業(ye)務設(she)備測試方法：移動臺。

3）GB/T 15844.3-1995 移(yi)動通信調頻無線電話機可靠性要求和試(shi)驗方法(fa)。 

4）YD/T 965-1998  電(dian)信(xin)終端設備的安全要求(qiu)和試(shi)驗方法。 

5）YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 數字900/1800MHz TDMA 數字蜂窩移(yi)動通信系統電磁兼容性限(xian)值和測量方法(fa)  第一部分：移(yi)動臺(tai)及其輔助設備。

對(dui)(dui)手機整機進行(xing)可靠性(xing)測(ce)試(shi)，需要對(dui)(dui)測(ce)試(shi)過程的(de)失效(xiao)(xiao)現象(xiang)進行(xing)分(fen)析(xi)，因此在(zai)測(ce)試(shi)過程中應(ying)把手機的(de)失效(xiao)(xiao)現象(xiang)準確詳(xiang)細(xi)的(de)描述(shu)出來十(shi)分(fen)重要，從而(er)才(cai)能便(bian)于后續分(fen)析(xi)、改進設計，為提(ti)高手機可靠性(xing)、耐久性(xing)。更多詳(xiang)細(xi)資料歡迎咨(zi)詢(xun)廣東劍(jian)喬【劍(jian)喬儀器】廠家 官網：jdzhangzhiming.com.cn